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Konferenzpaper | | Peer reviewed

Optimal Placement of Power Quality Monitors for Enhanced Observability with Fewer Devices

Autor*innen
de Koster, Markus ; Lehnen, Patrick ; Mack, Patrick ; Waffenschmidt, Eberhard ; Stadler, Ingo ; Bkira, Ahmad
ISBN-13
#defaultkonferenzband 9781837245277

Weitere Details

Sprache
englisch
Darstellungsform
Text
Seitenbereich
1693 - 1697
Schlüsselwörter
Measurement Placement , Power Quality Monitoring , Singular Value Decomposition , Spectral Clustering