Sammelbandbeitrag - Wissenschaftlicher Artikel | 2019 | Peer reviewed

Test Automation for Reengineered Modules Using Test Description Language and FPGA

Autor*innen

Krawutschke, Tobias ; Faluwoye, Gerhard Babatunde ; Hartung, Carl Georg ; Hoffmann, Cornelia ; Kopshoff, Nils ; Schulze, Martin

Sammel-/ Konferenzband

Embedded World Conference 2018

ISBN-13

#MODS-ID.bibthk_mods_00001923

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Sprache

englisch

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Krawutschke, T., Faluwoye, G. B., Hartung, C. G., Hoffmann, C., Kopshoff, N., & Schulze, M. (2019). Test Automation for Reengineered Modules Using Test Description Language and FPGA. In U. Herausgeber, Embedded World Conference 2018. Haar: WEKA Fachmedien.

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Krawutschke, T., Faluwoye, G.B., Hartung, C.G., Hoffmann, C., Kopshoff, N. and Schulze, M., 2019. Test Automation for Reengineered Modules Using Test Description Language and FPGA. In: Embedded World Conference 2018. Haar: WEKA Fachmedien.

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Krawutschke, Tobias u. a. 2019. Test Automation for Reengineered Modules Using Test Description Language and FPGA. In Embedded World Conference 2018. Haar: WEKA Fachmedien.

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American Psychological Association 6th edition (DOI)

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