Konferenzpaper
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| Peer reviewed
Deep Learning in Industrie 4.0 Umgebungen als Wegbereiter für automatisierte Abbildungen von Ontologien
Autor*innen
ISBN-13
#defaultkonferenzband
9783180923758
Weitere Details
Sprache
deutsch
Darstellungsform
Text
Seitenbereich
675
-
686